ICS 77. 040. 01 H 17 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T43262006 代替GB/T4326—1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和 霍尔系数测量方法 Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient 2006-07-18 发布 2006-11-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会
GB-T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
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