(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211043179.X (22)申请日 2022.08.29 (71)申请人 深圳市城兴威电子有限公司 地址 518000 广东省深圳市福田区中航路 东侧都会10 0大厦银都 10J (72)发明人 陈少加　 (74)专利代理 机构 深圳驿航知识产权代理事务 所(普通合伙) 44605 专利代理师 孙小丁 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06V 10/762(2022.01) G06V 10/764(2022.01) G06V 10/766(2022.01) G06V 10/77(2022.01)G06V 10/82(2022.01) G06V 10/46(2022.01) (54)发明名称 电容外观检测方法、 装置、 电子设备及存储 介质 (57)摘要 本发明实施例提供一种电容外观检测方法， 方法包括： 获取待检测电容图片， 所述待检测电 容图片包括待检测电容； 对所述待检测电容图片 进行特征提取， 得到所述待检测电容的主体特征 和引脚特征； 基于所述主体特征和所述引脚特 征， 对所述待检测电容进行外观识别， 得到所述 待检测电容的外观检测结果。 通过待检测电容图 片进行特征提取， 得到待检测电容的主体特征和 引脚特征， 利用待检测电容的主体特征和引脚特 征对待检测电容进行外观识别， 可以避免采用人 工检测， 提高电容外观检测的准确率以及检测效 率。 权利要求书2页 说明书9页 附图1页 CN 115456968 A 2022.12.09 CN 115456968 A 1.一种电容外观检测方法， 其特 征在于， 所述电容包括主体和引脚， 包括以下步骤： 获取待检测电容图片， 所述待检测电容图片包括待检测电容； 对所述待检测电容图片进行 特征提取， 得到所述待检测电容的主体特 征和引脚特 征； 基于所述主体特征和所述引脚特征， 对所述待检测电容进行外观识别， 得到所述待检 测电容的外观检测结果。 2.如权利要求1所述的电容外观检测方法， 其特征在于， 所述待检测电容图片包括多个 所述待检测电容， 所述对所述待检测电容图片进行特征提取， 得到所述待检测电容的主体 特征和引脚特 征， 包括： 对所述待检测电容图片进行目标检测， 得到各个所述待检测电容的电容检测框； 对各个所述电容检测框 中对应的待检测电容图像进行特征提取， 得到各个所述待检测 电容的主体特 征和引脚特 征。 3.如权利要求2所述的电容外观检测方法， 其特征在于， 所述对各个所述电容检测框中 对应的待检测电容图像进行 特征提取， 包括： 对各个所述电容检测框 中对应的待检测电容图像进行主体特征点提取， 得到各个所述 待检测电容的主体特 征； 对各个所述电容检测框 中对应的待检测电容图像进行引脚 特征点提取， 得到各个所述 待检测电容的引脚特 征。 4.如权利要求3所述的电容外观检测方法， 其特征在于， 所述基于所述主体特征和所述 引脚特征， 对所述待检测电容进行外观 识别， 得到所述待检测电容的外观检测结果， 包括： 将各个所述待检测电容对应的所述主体特征和所述引脚 特征进行特征拼接， 得到各个 所述待检测电容对应的拼接特 征； 将所述拼接特征进行聚类， 得到各个所述待检测电容的聚类结果； 根据所述聚类结果， 对所述待检测电容进行外观识别， 得到所述待检测电容的外观检 测结果。 5.如权利要求4所述的电容外观检测方法， 其特征在于， 所述根据所述聚类结果， 对所 述待检测电容进行外观 识别， 得到所述待检测电容的外观检测结果， 包括： 若所述聚类结果中存在到聚类中心的距离大于预设值的目标拼接特征时， 则将所述目 标拼接特征输入训练好的外观识别模型， 通过所述外观识别模型输出所述目标拼接特征的 识别结果； 根据所述识别结果， 得到所述待检测电容的外观检测结果。 6.如权利要求5所述的电容外观检测方法， 其特征在于， 在所述将所述目标拼接特征输 入训练好的外观识别模型， 通过所述外观识别模型输出所述目标拼接特征的识别结果之 前， 所述方法包括： 获取样本图像以及待训练外观识别模型， 每个所述样本图像包括已知外观是否缺陷的 多个样本电容； 对所述样本图像进行 特征提取， 得到所述样本电容的主体特 征和引脚特 征； 将所述样本电容的主体特征和引脚特征进行拼接， 得到样本拼接特征， 并基于所述样 本电容的外观是否缺陷， 将对应的所述样本拼接特 征进行标注， 得到训练数据集； 通过所述训练数据集对所述待训练外观识别模型进行训练， 得到训练好的外观识别模权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115456968 A 2型。 7.如权利要求4所述的电容外观检测方法， 其特征在于， 所述根据所述聚类结果， 对所 述待检测电容进行外观 识别， 得到所述待检测电容的外观检测结果， 包括： 若所述聚类结果中不存在到聚类中心的距离大于预设值的目标拼接特征时， 则确定所 有所述待检测电容的外观检测结果 为检测通过。 8.一种电容外观检测装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 第一获取模块， 用于获取待检测电容图片， 所述待检测电容图片包括待检测电容； 特征提取模块， 用于对所述待检测电容图片进行特征提取， 得到所述待检测电容的主 体特征和引脚特 征； 识别模块， 用于基于所述主体特征和所述引脚 特征， 对所述待检测电容进行外观识别， 得到所述待检测电容的外观检测结果。 9.一种电子设备， 其特征在于， 包括： 存储器、 处理器及存储在所述存储器上并可在所 述处理器上运行的计算机程序， 所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求 1至7中 任一项所述的电容外观检测方法中的步骤。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述计算机可读存储介质上存储有计算机 程序， 所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求 1至7中任一项 所述的电容外观检测 方法中的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115456968 A 3