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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210926874.4 (22)申请日 2022.08.03 (71)申请人 深圳市国电科技 通信有限公司 地址 518109 广东省深圳市龙华区大浪街 道新石社区华联工业区13 栋1层 申请人 深圳智芯微电子科技有限公司 (72)发明人 王祥 洪海敏 武占侠 占兆武 张荣 蔡义 (74)专利代理 机构 北京清亦华知识产权代理事 务所(普通 合伙) 11201 专利代理师 邵泳城 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06V 10/25(2022.01) G06V 10/26(2022.01)G06V 10/762(2022.01) G06V 10/764(2022.01) G06V 10/82(2022.01) (54)发明名称 电路板元器件极性的检测方法、 装置、 介质 和电子设备 (57)摘要 本发明公开了一种电路板元器件极性的检 测方法、 装置、 介质和电子设备, 电路板元器件极 性的检测方法包括: 获取待检测电路板图像; 对 待检测电路板图像的像素点进行聚类, 并根据聚 类结果分割待检测电路板图像, 得到包含元器件 丝印和极性标志的目标图像; 利用预设极性检测 模型根据目标图像得到元器件的极性。 该电路板 元器件极性的检测方法能够改善检测 中对元器 件极性标志依赖度较高的问题, 提升极反缺陷检 测的正确率, 同时提升电路板生产的合格率。 权利要求书2页 说明书7页 附图3页 CN 115439411 A 2022.12.06 CN 115439411 A 1.一种电路板元器件极性的检测方法, 其特 征在于, 所述方法包括: 获取待检测电路板图像; 对所述待检测电路板图像的像素点进行聚类, 并根据聚类结果分割所述待检测电路板 图像, 得到包 含元器件丝印和极性标志的目标图像; 利用预设 极性检测模型根据所述目标图像得到所述元器件的极性。 2.根据权利要求1所述的电路板元器件极性的检测方法, 其特征在于, 所述对所述待检 测电路板图像的像素点进行聚类之前, 所述方法还 包括: 利用高斯滤波算法对所述待检测电路板图像进行 预处理。 3.根据权利要求1或2所述的 电路板元器件极性的检测方法, 其特征在于, 所述对所述 待检测电路板图像的像素点进行聚类, 包括: 确定目标类别; 根据所述待检测电路板图像中各像素点的像素信 息, 确定各所述目标类别对应的目标 聚类中心; 利用k‑means算法根据所述目标聚类中心对所述待检测电路板图像的像素点进行聚 类。 4.根据权利要求3所述的电路板元器件极性的检测方法, 其特征在于, 所述目标类别包 括元器件的引脚、 丝印、 极性标志和背景。 5.根据权利要求4所述的电路板元器件极性的检测方法, 其特征在于, 所述聚类结果包 括多个簇, 所述 根据聚类结果分割所述待检测电路板图像, 包括: 根据各簇对应的目标类别和相对位置关系, 分割所述待检测电路板图像。 6.根据权利要求3所述的电路板元器件极性的检测方法, 其特征在于, 所述待检测电路 板图像为彩色图像, 所述像素信息包括色彩信息 。 7.根据权利要求1或2所述的 电路板元器件极性的检测方法, 其特征在于, 所述预设极 性检测模型采用基于VGG16骨干的分类模型, 所述利用预设极性检测模型根据所述目标图 像得到所述元器件的极性, 包括: 利用所述基于VG G16骨干的分类模型对所述目标图像进行角度识别; 若角度识别结果 为第一预设角度, 则确定所述元器件的极性 正常; 若角度识别结果为第二预设角度, 则确定所述元器件存在 极反缺陷, 其中, 所述第一预 设角度与所述第二预设角度的差值 为180度。 8.一种电路板元器件极性的检测装置, 其特 征在于, 所述装置包括: 获取模块, 用于获取待检测电路板图像; 分割模块, 用于对所述待检测电路板 图像的像素点进行聚类, 并根据聚类结果分割所 述待检测电路板图像, 得到包 含元器件丝印和极性标志的目标图像; 检测模块, 用于利用预设 极性检测模型根据所述目标图像得到所述元器件的极性。 9.根据权利要求8所述的电路板元器件极性的检测装置, 其特征在于, 所述装置还包 括: 预处理模块, 用于在所述分割模块对所述待检测电路板 图像的像素点进行聚类之前, 利用高斯滤波算法对所述待检测电路板图像进行 预处理。 10.根据权利要求8 或9所述的电路板元器件极性的检测装置, 其特征在于, 所述分割 模权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 115439411 A 2块具体用于: 确定目标类别, 并根据所述待检测电路板 图像中各像素点的像素信息, 确定各所述目 标类别对应的目标聚类中心, 利用k ‑means算法根据所述目标聚类中心对所述待检测电路 板图像的像素点进行聚类。 11.根据权利要求10所述的电路板元器件极性的检测装置, 其特征在于, 所述目标类别 包括元器件的引脚、 丝印、 极性标志和背景。 12.根据权利要求10所述的电路板极性检测装置, 其特征在于, 所述聚类结果包括多个 簇, 所述分割模块具体还用于: 根据各簇对应的目标类别和相对位置关系, 分割所述待检测电路板图像。 13.根据权利要求8 或9所述的电路板元器件极性的检测装置, 其特征在于, 所述预设极 性检测模型采用基于VG G16骨干的分类模型, 所述检测模块具体用于: 利用所述基于VG G16骨干的分类模型对所述目标图像进行角度识别; 若角度识别结果 为第一预设角度, 则确定所述元器件的极性 正常; 若角度识别结果为第二预设角度, 则确定所述元器件存在 极反缺陷, 其中, 所述第一预 设角度与所述第二预设角度的差值 为180度。 14.一种计算机可读存储介质, 其上存储有计算机程序, 其特征在于, 所述计算机程序 被处理器执行时, 实现如权利要求1 ‑7中任一项所述的电路板元器件极性的检测方法。 15.一种电子设备, 包括存储器和 处理器, 所述存储器上存储有计算机程序, 其特征在 于, 所述计算机程序被所述处理器执行时, 实现如权利要求 1‑7中任一项 所述的电路板元器 件极性的检测方法。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 115439411 A 3
专利 电路板元器件极性的检测方法、装置、介质和电子设备
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