(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210708849.9 (22)申请日 2022.06.21 (71)申请人 奥蒂玛光学科技 （深圳） 有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街 道黄阁坑社区黄阁北路449号龙岗天 安数码创新园三 号厂房B901 (72)发明人 陈龙　曹沿松　 (74)专利代理 机构 深圳市威世博知识产权代理 事务所(普通 合伙) 44280 专利代理师 田茂虎 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06V 10/762(2022.01) G06V 10/764(2022.01) (54)发明名称 缺陷检测方法、 光学检测设备、 电子设备以 及存储介质 (57)摘要 本申请公开了一种缺陷检测方法、 光学检测 设备、 电子设备以及计算机可读存储介质， 该缺 陷检测方法应用于光学检测设备， 该方法包括： 获取电路板图像的检测参数， 以及电路板图像中 对应的缺陷信息； 基于缺陷信息， 对电路板图像 中的缺陷进行缺陷聚类； 基于缺陷聚类的结果调 整检测参数， 以利用调整后的检测参数检测电路 板。 上述方法， 利用电路板图像对应的缺陷信息 来对缺陷进行聚类， 再根据缺陷聚类的结果调整 电路板的检测参数， 从而能够提高电路板的生产 质量和优化电路板的生产流程、 减少人力资源的 消耗。 权利要求书2页 说明书12页 附图4页 CN 115239626 A 2022.10.25 CN 115239626 A 1.一种缺陷检测方法， 应用于光学检测设备， 其特 征在于， 所述方法包括： 获取电路板图像的检测参数， 以及所述电路板图像中对应的缺陷信息； 基于所述 缺陷信息， 对所述电路板图像中的缺陷进行缺陷聚类； 基于缺陷聚类的结果调整所述检测参数， 以利用调整后的检测参数检测电路板 。 2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述基于所述缺陷信息， 对所述 电路板图像中的缺陷进行缺陷聚类， 包括： 基于所述 缺陷信息， 确定所述电路板图像中的缺陷区域； 利用预设聚类条件将所述缺陷区域内的缺陷进行聚类， 以获取缺陷聚类的结果； 其中， 所述预设聚类条件 包括： 缺陷类型、 缺陷尺寸、 缺陷距离中的一种或多种。 3.根据权利要求2所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述利用预设聚类条件将所述缺 陷区域内的缺陷进行聚类， 以获取缺陷聚类的结果， 包括： 获取所述缺陷区域内两 两缺陷之间的缺陷距离； 按照所述缺陷距离将所述缺陷区域内的缺陷进行聚类； 其中， 将所述缺陷距离处于预 设距离内的缺陷划分到同一聚类中。 4.根据权利要求2所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述利用预设聚类条件将所述缺 陷区域内的缺陷进行聚类， 以获取缺陷聚类的结果， 包括： 按照所述缺陷类型将所述缺陷区域内的缺陷进行聚类； 其中， 将相同所述缺陷类型的 缺陷划分到同一聚类中。 5.根据权利要求1所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述检测参数包括所述电路板的 缺陷精度参数和/或缺陷类型参数。 6.根据权利要求5所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述检测参数包括所述电路板的 缺陷精度参数和缺陷类型参数； 所述基于缺陷聚类的结果调整所述检测参数， 包括： 基于用户的设置信息设置预设缺陷数量范围； 其中， 所述设置信息包括所述用户设置 的目标缺陷数量范围和/或目标缺陷类型 范围； 基于所述缺陷聚类的结果以及所述预设缺陷数量范围， 调整检测所述电路板的缺陷精 度参数和缺陷类型参数。 7.根据权利要求6所述的缺陷检测方法， 其特征在于， 所述缺陷精度参数包括缺陷的数 量参数、 成像精度参数和尺寸 参数中的至少一种； 所述基于所述缺陷聚类的结果以及所述预设缺陷数量范围， 调整检测所述电路板的缺 陷精度参数和缺陷类型参数， 包括： 基于所述 缺陷聚类的结果， 获取聚类后的缺陷数量； 响应于所述聚类后的缺陷数量大于所述预设缺陷数量范围， 调低所述电路板的缺陷类 型参数， 以及所述 缺陷的数量 参数、 成像精度参数和尺寸 参数中的至少一种； 响应于所述聚类后的缺陷数量小于所述预设缺陷数量范围时， 调高所述电路板的缺陷 类型参数， 以及所述 缺陷的数量 参数、 成像精度参数和尺寸 参数中的至少一种。 8.一种光学检测设备， 其特 征在于， 所述 光学检测设备包括： 信息获取模块， 用于获取电路板 图像的检测参数， 以及所述电路板 图像中对应的缺陷 信息；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115239626 A 2缺陷聚类模块， 用于基于所述 缺陷信息， 对所述电路板图像中的缺陷进行缺陷聚类； 参数调整模块， 基于缺陷聚类的结果调整所述检测参数， 以利用调整后的检测参数检 测电路板 。 9.一种电子设备， 其特征在于， 所述电子设备包括处理器以及与所述处理器连接的存 储器， 其中， 所述存储器中存储有程序数据， 所述处理器调取所述存储器存储的所述程序数 据， 以执行如权利要求1 ‑7任意一项所述的缺陷检测方法。 10.一种计算机可读存储介质， 内部存储有程序指令， 其特征在于， 所述程序指令被执 行以实现如以执 行如权利要求1 ‑7任意一项所述的缺陷检测方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115239626 A 3