(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210934619.4 (22)申请日 2022.08.04 (71)申请人 格物致和 （北京） 生物科技有限公司 地址 101318 北京市顺 义区后沙峪蓝贝科 技园19号楼5 03 (72)发明人 吴浩扬　许俊泉　蔡志刚　 (74)专利代理 机构 北京天盾知识产权代理有限 公司 11421 专利代理师 丁敬博 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 5/00(2006.01) G06T 5/40(2006.01) G06T 5/10(2006.01) G06T 7/77(2017.01)G06T 7/73(2017.01) (54)发明名称 一种基于图像的计数方法和系统 (57)摘要 本发明涉及一种基于图像的计数方法和系 统， 所述方法通过消除噪声和不均匀背景， 利用 图像增强， 避免微坑阵列表面的气泡、 残水等污 染物对计算结果的不利影 响， 自适应区分阴性微 坑和阳性微坑， 直接计算待测分子的绝对数目。 本发明不采用预设灰度阈值来区分图像中的阳 性和阴性目标， 无需依赖于对照标准样品和标准 曲线就可以进行精确的绝对定量检测， 其灵敏度 不会随着生物分子浓度的降低而降低。 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 CN 115170555 A 2022.10.11 CN 115170555 A 1.一种基于图像的计数 方法， 其特 征在于， 包括： 步骤S1： 将包含低浓度生物分子的待测样品均匀分配到大量的样品分配单元， 然后扩 散在微坑阵列中； 步骤S2： 在显微镜下拍照， 得到微 坑阵列图像； 步骤S3： 读取微坑阵列图像， 根据灰度直方图调整灰度以作图像增强； 然后对图像做 “开运算”得到待处 理图像； 步骤S4： 根据微坑阵列中光斑的分布情况调整待处理图像， 对待处理图像的惯性特征 作像素值补偿； 步骤S5： 对待处 理图像作滤波处 理， 得到不均匀光照背景； 步骤S6： 对待处 理图像与不均匀光照背景作差值处 理得到第四图像； 步骤S7： 调整第四图像的灰度， 对第四图像进行二 值化后得到二 值化图像； 步骤S8： 消除二值化图像中的杂点以得到结果图像； 识别并统计结果图像中的光斑数 量， 将所述 光斑数量作为计数值。 2.根据权利要求1所述的基于图像的计数方法， 其特征在于， 所述杂点为连通面积小于 预设值的光斑或者 位于预设范围的光斑。 3.根据权利要求2所述的基于图像的计数 方法， 其特 征在于， 所述预设值 为30。 4.根据权利要求3所述的基于图像的计数方法， 其特征在于， 微坑阵列中的每个微坑的 直径为1～10个微米。 5.根据权利要求4所述的基于图像的计数方法， 其特征在于， 硅、 玻璃、 聚合物的典型尺 寸3mm*3mm。 6.一种基于图像的计数系统， 其特 征在于， 所述系统包 含： 分配模块： 用于将包含低浓度生物分子的将待测样品均匀分配到大量的样品分配单 元， 然后扩散在微 坑阵列中； 采集模块： 用于在显微镜下拍照， 得到微 坑阵列图像； 待处理图像获取模块： 用于读取微坑阵列图像， 根据灰度直方图调整灰度以作图像增 强； 然后对图像做 “开运算”得到待处 理图像； 补偿模块： 用于根据微坑阵列中光斑的分布情况调整待处理图像， 对待处理图像的惯 性特征作像素值补偿； 背景图像获取模块： 用于对待处 理图像作滤波处 理， 得到不均匀光照背景； 差值模块： 用于对待处 理图像与不均匀光照背景作差值处 理得到第四图像； 二值化模块： 用于调整第四图像的灰度， 对第四图像进行二 值化后得到二 值化图像； 结果确定模块： 用于消除二值化图像中的杂点以得到结果图像； 识别并统计结果图像 中的光斑数量， 将所述 光斑数量作为计数值。 7.根据权利要求6所述的基于图像的计数系统， 其特征在于， 微坑阵列中的每个微坑的 直径为1～10个微米。 8.一种处理器， 其特征在于， 所述处理器用于运行程序， 其中， 所述程序运行时执行权 利要求1‑5中任一项所述的基于图像的计数 方法。 9.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 包括程序， 当其在计算机上运行时， 使得计 算机执行如权利要求1 ‑5中任一项所述的基于图像的计数 方法。权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115170555 A 210.一种执行设备， 其特征在于， 包括处理器， 所述处理器和存储器耦合， 所述存储器存 储有程序指令， 当所述存储器存储的程序指令被所述处理器执行时实现如权利要求1 ‑5中 任一项所述的基于图像的计数 方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115170555 A 3