ICS 71.040.40 G 04 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T34002—2017/IS029301:2010 微束分析 透射电子显微术 用周期结 构标准物质校准图像放大倍率的方法 Microbeam analysis-Analytical transmission electron microscopy- Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures (ISO29301:2010,IDT) 2017-07-12发布 2018-06-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会

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