ICS 77.100 CCS H 11 中华人民共和国国家标准 GB/T41497—2022 钒铁钒、硅、磷、锰、铝、铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 Ferrovanadium--Determination of vanadium,silicon,phosphorus,manganese aluminum,iron contentWavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry 2022-11-01实施 2022-04-15发布 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T41497—2022 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任， 本文件由中国钢铁工业协会提出。 本文件由全国生铁及铁合金标准化技术委员会（SAC/TC318）归口。 本文件起草单位：攀钢集团研究院有限公司、福建三钢闽光股份有限公司、广东韶钢松山股份有限 公司、四川攀研检测技术有限公司、成都先进金属材料产业技术研究院股份有限公司、攀钢集团攀枝花 钢钒有限公司、冶金工业信息标准研究院。 本文件主要起草人：於利慧、郑小敏、张婷婷、刘力维、傅晓珊、苏洋、吴超超、汪雪梅、杨新能、冯宗平、 黄合生、伍玉根、宾曦、唐勇、刘林、邢文青、林俊文、温春禄、康开斌、卢春生、张晨。 GB/T41497—2022 钒铁钒、硅、磷、锰、铝、铁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 警示一一使用本文件的人员应有正规实验室工作实践经验。本文件并未指出所有可能的安全问 题。 使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件 1范围 本文件描述了用波长色散×射线荧光光谱法测定钒铁中钒、硅、磷、锰、铝、铁的含量 本文件适用于分析钒铁中钒、硅、磷、锰、铝、铁含量的测定。各元素测定范围见表1。 表1测定范围 测定范围（质量分数） 元素 % 42~82 IS 0.2~5.0 P 0.01~0.12 Mn 0.06~4.0 IV 0.1~6.0 Fe 13~49 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文 本文件。 GB/T4139 钒铁 GB/T 6379.1 测量方法与结果的准确度（正确度与精密度） 第1部分：总则与定义 GB/T 6379.2 测量方法与结果的准确度（正确度与精密度） 第2部分：确定标准测量方法重复 性与再现性的基本方法 GB/T6682 分析实验室用水规格和试验方法 GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定 GB/T16597 冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则 3 3术语和定义 本文件没有需要界定的术语和定义。 1 GB/T41497—2022 4原理 试料与熔剂经预氧化处理后，再转移至铂金埚中熔铸制成玻璃样片。X射线管产生的初级X射 线照射到玻璃样片表面上，产生特征X射线经晶体分光后，由探测器在选择的特征波长相对应的20角 处测量X射线荧光强度。根据校准曲线和待测元素的X射线荧光强度，且进行元素间干扰效应校正， 获得待测元素的含量。 5试剂和材料 除另有说明，在分析中仅使用认可的分析纯及以上试剂和符合GB/T6682规定的三级及三级以上 蒸馏水或纯度相当的水。 5.2碳酸锂，应为无水干燥状态，否则需在200℃烘干2h以上，冷却后置于干燥器中备用。 5.3氧化剂，宜使用硝酸铵、硝酸锂、硝酸锶 5.4脱模剂，碘化锂、溴化锂，宜使用碘化铵 5.5标准物质，用于绘制校准曲线和漂移校正用，所选系列有证标准物质/样品中各分析元素含量应覆 盖分析范围且有适当的梯度。 5.6 石墨粉。 6 仪器与设备 6.1 波长色散X射线荧光光谱仪 应符合GB/T16597规定。 6.2 2和铸型模 埚和铸型模（或埚兼作铸型模）由不浸润的铂合金（95%Pt十5%Au）制成。容积宜大于 30mL，铸型模要求底部平整光滑（底部厚度应足以防止变形）。 6.3 高温炉 温度可控并至少能加热到1000℃士20℃。 6.4 熔融炉 温度可控并至少能加热到1050℃土20℃。 6.5 5天平 感量不大于0.1mg。 6.6 6瓷璃 容积约50mL。 6.7瓷 容积约100mL。 2 GB/T41497—2022 7取样和制样 分析用试样应按GB/T4139进行取样和制备，试样应通过0.125mm筛孔。 8试验步骤 8.1试料量 称取0.2000g试料（第7章），精确至0.0001g。 8.2平行试验 平行做两份试验。 8.3验证试验 随同试料分析与试料同类型的未参加校正曲线制作的标准物质/样品 8.4 熔铸玻璃片的制作 8.4.1试料的预氧化 称取7.0000g四硼酸锂（5.1），转人熔剂袋中，加人2.0000g碳酸锂（5.2），1.0000g~2.0000g氧 温炉内（炉门留15mm缝隙）从常温处在35min内缓慢升温至800℃，保温15min，然后在30min内 升温至1000℃，关闭炉门，熔融30min以上，冷却后取出。 注1：熔剂袋：将定量慢速滤纸折成锥形袋，放人50mL埚（6.6）中 后用合适尺寸的圆球棒磨或容量瓶边压实边加石墨粉，直至离瓷埚上口10mm左右，且全部覆盖瓷埚 上口内表面，石墨粉表面光滑，无脱落。再次使用时，除去表面石墨粉，重新取2g~5g经850℃处理过的石 墨粉（5.6）于中，用合适尺寸的圆球棒磨或容量瓶边压实成凹形直至表面光滑 8.4.2熔融铸片 用镊子夹取熔块（8.4.1)并扫净其表面石墨粉，将熔块放人预先加有1.0g碘化铵（5.4)的铂黄 中，将埚转移到熔融炉中，在1050℃熔融，不时旋转或摇动，直至完全熔解且熔体均匀。如果埚壁 上挂有小熔珠，中途需手动摇动使其熔下。熔融20min后取出，直接成型或倒入铸型模冷却制成 可测量的玻璃片。 也可用自动熔融炉进行试料熔融，熔融过程中摇动和转动，直接成型或倒入铸型模冷却制成可 测量的玻璃片。 8.4.3试样熔片质量要求 试样熔片应是均匀的玻璃体，表面平整光滑，无气泡和未熔小颗粒等夹杂，否则应重新制备 8.4.4熔片精密度测试 实验室应根据选择的熔剂、氧化剂和脱模剂进行熔片制备精密度测试。熔片制备精密度以最高含 3 GB/T41497—2022 量元素的变异系数衡量，按式（1)计算标准偏差（S，），按式（2）计算变异系数（S.），变异系数（S）宜小于 0.3%，否则应调整熔融方法直至试料制备精密度满足要求方可熔铸玻璃片。 ....(1) X 式中： Sp 一试料制备的标准偏差； R -5个熔片测量5次数据的各自平均值之间的变动范围； R ——5个熔片测量5次的变动范围读数的平均值； S. 一试料制备的变异系数； X -5次平均读数的平均值。 注1：脱模剂（5.4)用量根据铂金埚的新旧程度适当调整，一般在0.5g~1g之间。用量确定后，在本方法整个使 用阶段保持一致 注2：根据使用的铸型模类型，选择试料和熔剂的总量，且始终一致。 注3：根据熔剂的种类使用合适的熔融温度和时间。 9校准曲线的绘制 9.1 校准样品熔片 选定有一定浓度和梯度范围的系列标准物质/样品作为校准样品，校准曲线系数是指由标准校准样 品确定的系数，如曲线的截距、斜率、经验α影响系数等。如果选用的系列标准物质/样品未能覆盖待测 样品的含量范围，可使用系列标准物质/样品的混合物或加入高纯试剂铁粉。校准曲线绘制用标准校准 样品按试料熔片制备熔铸成玻璃片后进行测量。 9.2测量条件 各元素特征谱线的测量条件通过优化获得，通常宜测试3个～4个不同浓度的标准物质/样品。推 荐的测量条件见附录A。 9.3 校准方程 可根据实际情况选合适的校准方程，如理论α影响系数法、基本参数法、经验α影响系数法等。若 脱模剂使用的是漠化物，应测量BrLα的强度，若不同熔片中测得的BrLα的强度差异较天，应校正其对 AI的谱线重叠影响。但不论采用何种校正模型，都应用标准物质/样品对校正曲线进行验证。按照选 定的分析条件，用X射线荧光仪测量与试样化学成分相近的标准样品的玻璃熔铸片，按式（3）判定分析 值与认证值或标准值之间在统计上是否有显著差异。 S2 R²-r² (n-1) +8X ..(3) V2V n N 式中： 标准样品中分析元素测量的平均值； o 标准样品中分析元素的标准值； R,r 精密度共同试验确定的再现性限和重复性限； n 标准样品的重复测定次数； 4 GB/T41497—2022 S 标准样品中分析元素定值的标准偏差； N 标准样品定值实验室个数。 10 样品测量 10.1 漂移校正 选择合适的校准样品熔片作为漂移校正熔片进行仪器的漂移校正。可采用单点校正或两点校正， 校正的间隔时间可根据仪器的稳定性决定。 10.2 试样熔片测量 按选定的测量条件测定试样熔片。若进行仪器漂移校正，应在仪器稳定后，先进行漂移校正，再进 行试样熔片测定。 分析结果的计算及表示 根据未知试样的荧光强度测量值，从校准曲线计算出分析元素的含量。 同一试样两次独立分析结果差值的绝对值不大于重复性限r，则取算术平均值作为分析结果。否 则应按附录B中的规定追加测量次数并确定分析结果。 分析结果按GB/T8170修约。当含量小于1%时，修约至小数点后三位：当含量不小于1%时，修 约至小数点后两位。 12精密度 本文件的精密度是在2020年由8个实验室对8个水平的钒、硅、磷、锰、铝、铁含量进行共同试验确 定的。每个实验室对每个水平的待